Asian Test Symposium. Proceedings

基础信息
ISSN: 1081-7735 学科: 计算技术、计算机技术
EI收录: Medline收录:
SCI收录: JCR分区
出版物类型: 会议录 出版社: Institute of Electrical and Electronics Engineers
国家: 美国 网址: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome.jsp?punumber=1000754
语言: 英语 内容类型: 学术
刊期: 每年一期